Energijos generavimo, kaupimo ir saugojimo įrenginių elektrodų dangų formavimas ir tyrimas.
Sistema skirta įvairių dangų pavidalo medžiagų sintezei panaudojant fizikines garinimo elektroniniu spinduliu technologijas.
Vakuuminio garinimo sistema skirta plonasluoksnių metalinių, puslaidininkinių ir oksidinių dangų/membranų plonų dangų formavimui magnetroninio garinimo metodu.
Įrenginys skirtas charakterizuoti medžiagų elektrines savybes (impedanso spektroskopiniai tyriniai) aukštoje temperatūroje kontroliuojamoje atmosferoje.
Įrenginys dirbantis keturių zondų matavimo metodu yra skirtas specifinės medžiagos varžos tyrimams.
Įrenginys skirtas matuoti įvairių medžiagų (metalų, keramikos, puslaidininkių ir kt.) paviršiaus kietumą.
Prietaisas skirtas atlikti precizinius įvairių paviršių topografijos matavimus.
Atominės jėgos mikroskopas leidžia gauti didelės skiriamosios gebos tiriamojo bandinio paviršiaus (3D) vaizdą.
PCTPro-2000 specialiai suprojektuotas metalų hidridų tyrimams, bet gali būti naudojamas ir kitų dujų adsorbcijos tyrimams.
Aukštos temperatūros elektrinė krosnis skirta įvairiems terminio apdirbimo procesams ore.
Keturių pirštinių inertinės aplinkos stendas naudotinas užtikrinant medžiagų išlaikymą švarioje atmosferoje siekiant išvengiant sąlyčio su oru.
Įrenginys skirtas greitam sausų bei suspensijuotų kietų, vidutinio kietumo bei minkštų medžiagų maišymui bei trynimui iki koloidinio dydžio dalelių.
Svarstyklės skirtos tiksliam nedidelių medžiagos kiekių svėrimui.
Prietaisas skirtas stipriai padidintam, plika akim neįžiūrimų objektų (arba jų struktūros detalių), vaizdui gauti.
Įrenginys skirtas nedustruktyviai visų tipų medžiagų, miltelių bei plonų dangų bandinių analizei.
Laidžių, puslaidininkinių ir nelaidžių bandinių paviršių struktūros ir morfologijos tyrimas įskaitant elementinės sudėties matavimus EDS metodu.
Didelės skyros ultravioletinės-regimosios srities spektrofotometras tinkamas tiek skystų, tiek ir kietų bandinių kokybiniams bei kiekybiniams optiniams tyrimams.
Įrenginys skirtas matuoti azoto, deguonies ir vandenilio kiekį įvairiuose metaluose ir kitose neorganinėse medžiagose.
Įrenginys skirtas kietų kūnų (metalų, lydinių ir kitų medžiagų) kokybinei ir kiekybinei elementinei analizei, įskaitant plonų dangų/sluoksnių sistemų su laidžiais ir nelaidžiais sluoksniais gylių profiliavimą.
Įrenginys skirtas rentgeno spindulių fotoelektroninės spektroskopijos (XPS) metodu matuoti įvairių kietų medžiagų (įskaitant plonas dangas ir nano-miltelius) elementinę ir cheminę sudėtį (ryšius).
Įrenginys skirtas atlikti bandinių paviršių, nano-lygmens darinių, plonų dangų ir sąlyčio zonų elementinės bei cheminės būsenos analizę.
Galimybė atlikti bandinių analizę aukštos kokybės optiniu mikroskopu su galimybę vaizdus išsaugoti didelės skiriamosios gebos nuotraukomis. Mikroskopo didinimas parenkamas tarp 100, 200, 500 ir 1000 kartų. Nuotraukos daromos specialiai optinei mikroskopijai sukurta skaitmenine NIKON DSF-1Fi kamera, kurios daromų nuotraukų rezoliucija yra 2,560 x 1,920 taškų.
Galima vienu matavimu nustatyti visas kristalines fazes, esančias bandinyje. Taip pat yra išplėstinės galimybės difrakcijos matavimus atlikti tuo pat metu kontroliuojant aplinkos temperatūrą (nuo skysto azoto iki 1600 C) bei supančios aplinkos sudėtį (galima naudoti aukštą vakuumą arba įleisti norimą kiekį dujų (tinkamos daugelis dujų) iki maksimalaus 5 bar slėgio.
Kiekybiškai ir kokybiškai nustatoma bandinio elementinė sudėtis detektuojant cheminius elementus nuo Boro5 iki Americio95 pasirinktame taške (erdvinė skyra 1-2 μm, priklausomai nuo matavimo sąlygų informacija gaunama iš 0,5-2 μm gylio). Taip pat yra galimybė bandinio plote nustatyti atskirų cheminių elementų pasiskirstymo žemėlapį.
Kintamo slėgio skenuojančiu elektroniniu mikroskopu galima analizuoti tiek laidžius, tiek ir dielektrinius bandinius. Taip pat su tam tikromis išlygomis galima analizuoti biologinius objektus. SEM skiriamoji geba prie 30 kV greitinančios įtampos 3 nm, tuo tarpu, esant 3 kV greitinančiai įtampai, pasiekiama 8-10 nm skyra. Vaizdus galime formuoti tiek antrinių, tiek ir atsispindėjusių elektronų detektoriais, taigi yra galimybė atskirai išryškinti bandinių reljefo, elementinės sudėties netolygumus, išgauti detalius pseudo 3D vaizdus.
Kokybiniai ir kiekybiniai optinio pralaidumo matavimai 163-1100 nm spektriniame intervale.
Inertinių dujų lydimo principu (inert gas fusion principe) atliekame tikslų net ir labai mažų azoto, deguonies ir vandenilio kiekio įvairiuose medžiagose analizę. Matavimams reikalingas iki 1-2g tiriamos medžiagos kiekis, kuris analizės metu yra išlydomas aukštoje temperatūroje ir matuojamas išsiskyrusių dujų kiekis
Greita, mažo tikslumo (erdvinis tikslumas apie 2-4 milimetrus, profiliavimo gylio tikslumas dešimtys-šimtai nanometrų) kokybinė ir kiekybinė elementinės sudėties analizė. Galimybės atlikti gylio profiliavimą, sudėties kontrolę ir palyginimus tarp paviršinių bei gilesnių sluoksnių sudėties.
Itin tikslus (6 nm erdvinė skyra, 2-3 atominių monosluoksnių tūrinė (gylio) skyra) paviršinių ir tūrinių (iki 1-2 μm gylio) darinių identifikavimas, elementinės sudėties nustatymas, cheminės (ryšių) informacijos gavimas. Galimos problemos ir apribojimai tiriant ypač dielektrinius bandinius.
Energijos generavimo, kaupimo ir saugojimo įrenginių elektrodų dangų formavimas ir tyrimas.
Sistema skirta įvairių dangų pavidalo medžiagų sintezei panaudojant fizikines garinimo elektroniniu spinduliu technologijas.
Vakuuminio garinimo sistema skirta plonasluoksnių metalinių, puslaidininkinių ir oksidinių dangų/membranų plonų dangų formavimui magnetroninio garinimo metodu.
Įrenginys skirtas charakterizuoti medžiagų elektrines savybes (impedanso spektroskopiniai tyriniai) aukštoje temperatūroje kontroliuojamoje atmosferoje.
Įrenginys dirbantis keturių zondų matavimo metodu yra skirtas specifinės medžiagos varžos tyrimams.
Įrenginys skirtas matuoti įvairių medžiagų (metalų, keramikos, puslaidininkių ir kt.) paviršiaus kietumą.
Prietaisas skirtas atlikti precizinius įvairių paviršių topografijos matavimus.
Atominės jėgos mikroskopas leidžia gauti didelės skiriamosios gebos tiriamojo bandinio paviršiaus (3D) vaizdą.
PCTPro-2000 specialiai suprojektuotas metalų hidridų tyrimams, bet gali būti naudojamas ir kitų dujų adsorbcijos tyrimams.
Aukštos temperatūros elektrinė krosnis skirta įvairiems terminio apdirbimo procesams ore.
Keturių pirštinių inertinės aplinkos stendas naudotinas užtikrinant medžiagų išlaikymą švarioje atmosferoje siekiant išvengiant sąlyčio su oru.
Įrenginys skirtas greitam sausų bei suspensijuotų kietų, vidutinio kietumo bei minkštų medžiagų maišymui bei trynimui iki koloidinio dydžio dalelių.
Prietaisas skirtas stipriai padidintam, plika akim neįžiūrimų objektų (arba jų struktūros detalių), vaizdui gauti.
Įrenginys skirtas nedustruktyviai visų tipų medžiagų, miltelių bei plonų dangų bandinių analizei.
Laidžių, puslaidininkinių ir nelaidžių bandinių paviršių struktūros ir morfologijos tyrimas įskaitant elementinės sudėties matavimus EDS metodu.
Didelės skyros ultravioletinės-regimosios srities spektrofotometras tinkamas tiek skystų, tiek ir kietų bandinių kokybiniams bei kiekybiniams optiniams tyrimams.
Įrenginys skirtas matuoti azoto, deguonies ir vandenilio kiekį įvairiuose metaluose ir kitose neorganinėse medžiagose.
Įrenginys skirtas kietų kūnų (metalų, lydinių ir kitų medžiagų) kokybinei ir kiekybinei elementinei analizei, įskaitant plonų dangų/sluoksnių sistemų su laidžiais ir nelaidžiais sluoksniais gylių profiliavimą.
Įrenginys skirtas rentgeno spindulių fotoelektroninės spektroskopijos (XPS) metodu matuoti įvairių kietų medžiagų (įskaitant plonas dangas ir nano-miltelius) elementinę ir cheminę sudėtį (ryšius).
Įrenginys skirtas atlikti bandinių paviršių, nano-lygmens darinių, plonų dangų ir sąlyčio zonų elementinės bei cheminės būsenos analizę.
