Atominės jėgos mikroskopas

Atominės jėgos mikroskopas leidžia gauti didelės skiriamosios gebos tiriamojo bandinio paviršiaus (3D) vaizdą. AFM pagalba galima tiksliai išmatuoti mažus paviršinius darinius, kurių dydis nesiekia ir 10 nanometrų.

• Pagrindiniai darbo rėžimai:
  • Kontaktinis,
  • Nekontaktinis,
  • Dinaminio kontaktavimo (virpančio zondo).
• Maksimalus skanuojamas plotas 20×20 μm;
• Skanuojamos matricos dydis 1024*1024 taškų ir daugiau;
• Skanavimo greitis X ir Y plokštuma – 10 μm/s;
• Detektoriaus sistemą sudaro lazerio spindulys, keturių kvadrantų padėčiai jautrus fotodetektorius;
• Bandinys skenuojamas X – Y plokštumoje (horizontaliai) ir Z kryptimi (vertikaliai);
• Maksimalus tiriamo pavyzdžio plotas 30 × 30 × 8 mm (plotis-gylis-aukštis);
• Galvutės judėjimo diapazonas 10*10 XY plokštuma;
• Video sistemos vaizdo laukas 1*0,75 mm, kai ekrano taškų skaičius 640*480 px.